立方氮化硼（cBN）单晶粒径范围的确定

立方氮化硼（cBN）单晶粒径范围的确定需综合多种测量技术与统计分析方法。

测量技术选择方面，激光粒度分析仪适用于快速测量粉末粒径分布，其原理是通过激光衍射分析颗粒散射光分布，计算等效粒径，优势在于操作简便、重现性好，可测粒径范围宽（如0.3nm-10μm），但对不规则颗粒或团聚体的测量精度可能受影响。扫描电子显微镜（SEM）则能直观显示颗粒形状和尺寸，分辨率高，适用于观察颗粒形貌及表面结构，但样品需镀金处理，测量速度慢，成本较高。透射电子显微镜（TEM）可测纳米级颗粒，提供晶体结构信息，但样品制备复杂（需超薄切片），设备昂贵。

测量步骤与数据处理上，样品制备是关键环节。激光粒度分析需研磨粉末并分散于介质中以避免团聚；SEM/TEM则要将粉末均匀铺于导电胶或铜网，并镀金增强导电性。数据采集时，激光粒度仪可直接输出粒径分布曲线和统计参数，而SEM/TEM需拍摄颗粒图像，使用图像分析软件测量粒径。统计分析涉及计算平均粒径、粒径分布范围以及标准差等，以全面反映粒径特性。

粒径范围标准与应用领域，人工合成单晶粒径通常在0.05mm（50μm）至3mm之间，最大可达3mm。工业应用中，小粒径（如0.1-10μm）cBN用于精密抛光，大粒径（如100-1000μm）则用于粗磨；PCBN刀具由细晶粒（0.1-100μm）聚结而成，以平衡硬度与韧性。行业标准方面，如《含立方晶氮化硼颗粒的单晶态金刚石颗粒》要求cBN平均粒径为0.05-100μm，企业规范则根据合成工艺和用途制定具体范围。

技术对比与选择建议，激光粒度分析精度中等，速度快，成本低，适用于0.3nm-1mm粒径；SEM精度高，速度慢，成本中等，适用于1μm-1mm粒径；TEM精度极高，速度极慢，成本高，适用于纳米级（<1μm）粒径。选择时，快速筛选优先用激光粒度仪，形貌分析结合SEM，纳米级研究则用TEM。

结论，立方氮化硼单晶粒径范围需通过测量技术与统计分析综合确定，人工合成单晶粒径通常在0.05mm-3mm，具体范围需结合合成工艺和行业标准，并通过统计工具分析得出。